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白剛玉的粒徑分析方法概述

發(fā)布時(shí)間:2019-11-15       瀏覽:3539次       字號:  

一、篩分法。

優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀(guān)、設備造價(jià)低,常用于大于40um的樣品。

缺點(diǎn):結果受人為因素和篩孔變形影響較大。

 

二、顯微鏡(圖像)法。

優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀(guān),可進(jìn)行形貌分析,適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于101)的樣品。

缺點(diǎn):代表性差,分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,無(wú)法分析小于1um的樣品。

 

三、沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。

優(yōu)點(diǎn):操作漸變,儀器可以連續運行,價(jià)格低,準確性和重復性較好,測試范圍較廣。

缺點(diǎn):測試時(shí)間較長(cháng),操作比較繁瑣。

 

四、電阻法。

優(yōu)點(diǎn):操作漸變可測顆粒數,等效概念明確,速度快,準確性好。

缺點(diǎn):不適合測量小于0.1um的顆粒樣品,對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

 

五、激光法。

優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,測試速度快,測試范圍廣,重復性和準確性好,可進(jìn)行在線(xiàn)測量和干法測量。缺點(diǎn):結果受分布模型影響較大,儀器造價(jià)較高,分辨力低。

 

六、電子顯微鏡法。

優(yōu)點(diǎn):適合測試超新顆粒甚至納米顆粒,分辨力高,可進(jìn)行形貌和結構分析,

缺點(diǎn):樣品少,代表性差,測量易受人為因素影響,儀器價(jià)格昂貴。

 

七、光阻法。

優(yōu)點(diǎn):測試便捷快速,可測液體或氣體中顆粒數,分辨力高。

缺點(diǎn):不適用粒徑小于1umde樣品,進(jìn)行系統比較講究,僅適合對塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進(jìn)行測量,對一般粉體用的不多。

八、透氣法。

優(yōu)點(diǎn):儀器價(jià)格低。不用對樣品進(jìn)行分散,可測測性材料粉體。

缺點(diǎn):只能得到平均粒度值,不能測粒度分布;不能測小于5um細粉。

 

九、X射線(xiàn)小角散射法。

用于納米級顆粒的粒度測量。

 

十、光子相關(guān)譜法(動(dòng)態(tài)光散射法)。

用于納米級顆粒的粒度測量。

 

以上就是我們公司為大家介紹的有關(guān)白剛玉的粒度檢測方法對比的相關(guān)資訊,如果您對我們的白剛玉產(chǎn)品感興趣,請聯(lián)系我們,我們將竭誠為您服務(wù)。

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